產品用途 Product Usage
HAST試驗箱是利用高溫(通常為130 ℃)、高相對濕度(約85%)、高大氣壓力的條件（達3 atm）來加速潮氣通過外部保護材料或芯片引線周圍的密封封裝的試驗設備，用于評估產品及材料在高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速其失效過程
該試驗檢查芯片及其他材料長期貯存條件下，高溫和時間對器件的影響。本規范適用于量產芯片驗證測試階段的HAST測試需求，僅針對非密封封裝（塑料封裝），帶偏置（bHAST）和不帶偏置（uHAST）的測試。
特點 Characteristic
標準設計更安全：內膽采用圓弧設計防止結露滴水，符合國家安全容器規范
多重保護功能：三道高溫保護裝置、濕度用水斷水保護與電熱斷水空焚保護、機臺停機時自動排除飽和蒸氣壓力、氣動機構壓力保護等
穩定性更高：壓力值采實際感應偵測，確保溫度、濕度及壓力值準確度
濕度自由選擇：濕度自由選擇飽和（100%R.H濕度）與非飽和（75%R.H濕度）自由設定
智能化高：支持電腦連接 利用USB數據 曲線導出保存
技術參數 （定制款需備注） Parameters（Note the needs for customizatio)
